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鎢燈絲掃描電子顯微鏡
SEM3100
SEM3100具有出色的成像質(zhì)量和豐富的擴(kuò)展性,將鎢燈絲掃描電子顯微鏡的可用性、易用性發(fā)揮到極大。分辨率可達(dá)3 nm,超大樣品倉,可容納最大直徑為370mm的樣品,以及諸多細(xì)節(jié)功能設(shè)計(jì)和特色功能,助您在顯微成像的世界中盡情探索。
高性能高指標(biāo)
SEM3100是一款高性能的掃描電子顯微鏡,擁有超高的分辨率和出色的成像質(zhì)量。放大倍率連續(xù)可調(diào),在不同的視場(chǎng)范圍下均可得到高亮度的清晰圖像。大景深,成像富有立體感。配備的超大樣品倉和低電壓模式,極大地?cái)U(kuò)展了SEM3100的應(yīng)用范圍。
豐富的擴(kuò)展性
掃描電子顯微鏡不只用于表面形貌的觀察,還可以進(jìn)行樣品表面的微區(qū)成分分析。SEM3100擁有超大的樣品倉,接口豐富,除支持常規(guī)的二次電子探測(cè)器(ETD)、背散射電子探測(cè)器(BSED)、能譜儀(EDS)外,也預(yù)留了諸多接口,諸如電子背散射衍射(EBSD)、波譜儀(WDS)、陰極熒光(CL)等探測(cè)器都可以在SEM3100上進(jìn)行集成。
背散射探測(cè)器
二次電子成像和背散射成像對(duì)比。背散射像下,樣品的荷電效應(yīng)明顯減弱,并且具有很好的成分襯度,適合進(jìn)行成分觀察。
能譜分析
水泥建筑材料SE和EDS分析結(jié)果,加速電壓15 kV
*微量Au元素為噴金后的鍍層
特色功能,更高的效率和更好的性能
光學(xué)導(dǎo)航
SEM3100標(biāo)配的倉內(nèi)攝像頭可拍攝高清樣品臺(tái)照片,助您快速定位樣品。
旋鈕控制板和鼠標(biāo)手勢(shì)
可通過旋鈕控制板或鼠標(biāo)滾輪/手勢(shì)快速調(diào)節(jié)聚焦和像散等參數(shù),極大地提高成像效率。
動(dòng)態(tài)像散
直觀反映像散程度,通過鼠標(biāo)點(diǎn)擊即可快速調(diào)節(jié)像散至最佳。
動(dòng)態(tài)圖
結(jié)果圖
快速調(diào)節(jié)圖像旋轉(zhuǎn)
拖動(dòng)一條線,圖像立刻“擺正角度"。
動(dòng)態(tài)圖
結(jié)果圖
電子光學(xué)系統(tǒng)